【出展情報】第39回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム

2026/01/05

【出展情報】第39回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム

この度、第39回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム組織委員会様主催の学会にて出展する運びとなりました。

是非ご来場いただき、この機会に弊社製品をご覧いただきたく、ご案内申し上げます。

弊社の展示スペースにて、X-Spectrum社および XCAM社 をご紹介いたします。

展示会概要

【展示会】

第39回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム

【会期】

2026年1月07日(水) ～ 1月09日(金)

【会場】

東北大学百周年記念会館川内萩ホール【1日目 (1月7日)】
〒980-0862 宮城県仙台市青葉区川内40

仙台国際センター展示棟【2,3日目 (1月8日, 9日)】
〒980-0856仙台市青葉区青葉山無番地

【展示会概要】

すべての講演、発表、企業展示を現地会場で行い、放射光科学に関わる研究者、技術者、学生が集い、議論できる場となります。

展示会期間は、1月08日（木） 10:30～17:00、1月09日（金） 9:00～15:00となります。

【参加方法】

以下主催者様リンクより登録が必要となります。

*参加登録は、すべてWebサイトからのインターネットによるオンライン登録で受け付けられています。(登録期間: ～2026年1月09日まで)
*当日会場でも現金による清算等は受付できないとのことです。

国内(SPring-8), 国外共に多数採用実績のあるX-Spectrum社検出器（抜粋）のご紹介を予定しております。

製品シリーズ	製品写真	製品特徴
LAMBDA システム	LAMBDA750K	・ピクセルサイズ：55×55 ㎛・3種類のセンサ（Si, GaAs, CdTe）が選択可能・低価格版の検出速度を落とした　Eシリーズ, Labシリーズも選択可能 Eシリーズ(2M以上) Labシリーズ(250k, 350k, 750k)での取扱い
AMBER システム	AMBER システム	・電子顕微鏡・ピクセルサイズ：55×55 ㎛・センサマテリアル：Si
SPARTA システム	SPARTA システム	・ピクセルサイズ：200×200 ㎛・センサマテリアル：500 ㎛ Si ・最大フレームレート：最大6.5 MHz で352画像
LAMBDA FLEX システム	LAMBDA FLEX システム	・最新のLAMBDAシリーズ・スペースや重量に制約のある研究に最適・最大4つの60K検出器ヘッドを　1つの読取りユニットで制御